光耦参数测试仪
光耦参数测试仪
详细介绍
光耦参数测试仪 参数指标表:
参数項
测试参数
测试条件设置
输入正向压降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐压(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
传输比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V
IC:0-2.000A
饱和压降(Vsat)
0-2.000V
IF:0-400MA
IC:0-2.00A
※概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用方便,适用电子产品或电子元件供应商来料检测。
※ 测量元件类型:三极管类型4脚 6脚光耦
※ 测量参数:
光耦参数测试仪
输出漏电流(Iceo)
0-1mA
VCE=20V
输入反向漏电流(IR)
0-1mA
VR=4V
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