产品详情
所在位置: 首页> 产品目录> 热销产品>
  • 产品名称:双波段发射率测量仪

  • 产品型号:IR-2
  • 产品厂商:其它品牌
  • 产品文档:
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍:
双波段发射率测量仪 发射率是材料热物性的基本参数之一。新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。 双波段发射率测量仪
详情介绍:

双波段发射率测量仪

IR-2双波段发射率测量仪可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。 
发射率是材料热物性的基本参数之一。新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm,8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时,它可通过用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品,从而对样品进行发射率变温测量。 
特点: 
1.仪器中装有小型标准黑体辐射源和六位高精度微机控温仪(能显示到1mK)不仅使它具有稳定的宽光谱测量范围,而且还极大地提高了其在测量时的可靠性和稳定性。 
2.采用独特的光学调制技术,测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 
3.为了确保仪器的测量精度,在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探通道外,还增设了门的漫反射(DR)补偿通道。 
4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。 
5.操作简单,使用方便,测量速度快。 
6.可按需更换滤光片,在多个红外光谱波段内进行测试。 
7.在测量过程是不会损伤被测样品。 
8.带RS-232串口及复位键RST。 
主要技术指标: 
1.测量波段3~5μm,8~14μm、1~22μm(若用户有特殊要求,可定制不同波段滤光片) 
2.发射率测量范围:0.1~0.99 
3.灵敏度NE△ε:0.001 
4.示值误差:±0.02(ε>0.50) 
5.重复性:±0.01 
6.样品温度:常温(-100℃~600℃) 
7.样品尺寸:直径≥50mm 
8.测量时间:3秒 
9.显示方法:LED数字显示,末位0.001 
10.电源:交流22V  50Hz

* 请输入您的名字,方便我们和您联系
* 请输入您的电话,方便客服及时解答您的问题
* 请输入您详情地址,方便详细提供当地的市场讯息