半导体电阻率测试仪 TC-006730 北京同德创业科技有限公司

产品详情

查看大图

产品名称：半导体电阻率测试仪
产品型号：TC-006730
产品厂商：其它品牌
产品文档：

你添加了1件商品查看购物车

简单介绍：

半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针电阻率分析仪型号： TDW-6 TDW-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,

详情介绍：

半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪/四探针电阻率分析仪型号：  TDW-6
TDW-6型半导体电阻率测试仪是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是硅料分选测试的理想工具。
1、主要技术指标:
电源：220V交流
可测晶片直径（大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。
数字电压表：量程：0.1～200mV,大分辨率：100μV
电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米
输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。
测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%
2、操作程序：
  1、先连好电源，打开后面板电源开关，电源指示灯亮，表示待机完毕。
  2、校准设备：根据国标电流修正系数表通过厚度调节电流来校准仪器，或通过：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪
  3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可，
  4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准一次设备，
3、针组件;维护及注意事项:
  1、一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头  的  清理清洁工作
  2、维护后的安装及维护过程中,必须注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列。

* 请输入您的名字，方便我们和您联系

* 请输入您的电话，方便客服及时解答您的问题

* 请输入您详情地址，方便详细提供当地的市场讯息

产品名称：半导体电阻率测试仪