静电场描绘实验仪   型号：JDC-4
一、产品简介
    本设备在技术上采用了超细工艺，大幅度提高使用寿命，淘汰了原来导电橡胶探头易耗、更换频繁的弱点，改为紫铜探头。结构由原来的双层改为单层，使仪器使用更方便，测试更直观，记录更精确。并真正做到仪器的一体化，使用运输保管更方便。在价格上做到提质不提价。
二、技术参数
JDC-4静电场描绘实验仪  
1、导电层均匀性相对误差＜3%。  
2、电极与镀膜层接触电阻＜0.1Ω。  
3、镀层与电极的阻值比＞104.  
4、测量点与描绘点之间误差＜1mm.  
5、实验值与理论值的相对误差＜5%。  
6、镀层的强度，经smc-1型强度试验仪，经过一万次磨擦试验，镀膜完好无损。  
7、电源输出2v—10v连续可调。  
8、电源的内阻＜0.1Ω。  
9、电源调整率优于0.5%。  
10、三位半液晶显示。

三、基本原理
在一些科学研究和实践中，往往需要了解带电体周围静电场的分布情况，一般来说带电体的形状比较复杂，很难用理论方法进行计算。用实验手段直接研究或测绘静电场通常也很困难。因为仪表（或其探测头）放入静电场，总要使被测场原有分布状态发生畸变，而且除静电式仪表之外的一般磁电式仪表不能用于静电场的直接测量，因为静电场中不会有电流流过，对这些仪表不起作用。所以，人们常用“模拟法”间接测绘静电场的分布。