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金属电子逸出功测定仪/测定仪

日期:2025-08-21 22:21
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摘要:

金属电子逸出功测定仪/测定仪     型号:TC-W-Ⅲ

[仪器特点]

1、数据采集采用四块三位半数字表独立显示,无需另接测量仪表,数据稳定**

2、实验器材**,采用优良接插件

[实验目的]

1、 了解热电子发射的基本规律

2、 用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出功 <或逸出电位 >

3、 研究二极管的伏安特性

4、 用磁控条件测量电子荷质比

5、 学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法

[技术参数]

(1)数据采集:四块三位半数字表分别显示灯丝电流、阳极电压、阳极电流、磁控电流

(2)理想二极管:纯钨丝

(3)灯丝电流:DC 0~0.750 A,连续可调,精度:1mA,三位半数字显示

(4)阳极电压:DC 0~199.9V,连续可调,精度:0.1V,三位半数字显示

(5)阳极电流:测量范围:0~1999uA,精度:1uA,三位半数字显示

(6)磁控电流:DC 0~0.800 A,连续可调,精度:1mA,三位半数字显示

(7)电源主机尺寸:330mm(W)×300mm(D)145(H)mm

[仪器组成]

1、TC-W-Ⅲ 金属电子逸出功测定仪 电源主机 1台

2、金属电子逸出功测试台(包含理想二极管) 1台

3、理想二极管磁控线圈 1只

4、实验连接线 8根

5、使用说明书 1本

6、产品合格证 1只

7、三相电源线 1根

8、保险丝(1A) 2只

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