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数显薄膜测厚仪

日期:2026-04-01 01:01
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摘要:
数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:TD-CH-12.7-STSX 
分度值:0.001mm 
测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm 
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(大测量深度为80mm) 
GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979