单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：TR-LT-2 TC-007189 北京同德创业科技有限公司

产品详情

所在位置: 首页> 产品目录> 专用仪器>

查看大图

产品名称：单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：TR-LT-2
产品型号：TC-007189
产品厂商：同德
产品文档：

你添加了1件商品查看购物车

简单介绍：

单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：TR-LT-2010-51663485 010-51663486 010-56955598 18611444986 18910554055 传真：010-68467699

详情介绍：

单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：TR-LT-2

TR-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

010-51663485
010-51663486
010-56955598
18611444986
18910554055
传真：010-68467699
010-51663485
010-51663486
010-56955598
18611444986
18910554055
传真：010-68467699

* 请输入您的名字，方便我们和您联系

* 请输入您的电话，方便客服及时解答您的问题

* 请输入您详情地址，方便详细提供当地的市场讯息

TR-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

产品名称：单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号：TR-LT-2

产品名称：单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪型号：TR-LT-2